Title: Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком
Authors: Белоусов Д. А.
Достовалов А. В.
Корольков В. П.
Бронников К. А.
Микерин С. Л.
Бабин С. А.
Keywords: анализ дефектности
лазерно-индуцированные поверхности
пленки гафния
сфокусированные гауссовы пучки
Issue Date: 2020
Citation: Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13082
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf426.11 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.