| Title: | Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком |
| Authors: | Белоусов Д. А. Достовалов А. В. Корольков В. П. Бронников К. А. Микерин С. Л. Бабин С. А. |
| Keywords: | анализ дефектности лазерно-индуцированные поверхности пленки гафния сфокусированные гауссовы пучки |
| Issue Date: | 2020 |
| Citation: | Анализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13082 |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf | 426.11 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.