1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Информационные технологии и нанотехнологии
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБелоусов Д. А.
dc.contributor.authorДостовалов А. В.
dc.contributor.authorКорольков В. П.
dc.contributor.authorБронников К. А.
dc.contributor.authorМикерин С. Л.
dc.contributor.authorБабин С. А.
dc.coverage.spatialанализ дефектности
dc.coverage.spatialлазерно-индуцированные поверхности
dc.coverage.spatialпленки гафния
dc.coverage.spatialсфокусированные гауссовы пучки
dc.creatorБелоусов Д. А., Достовалов А. В., Корольков В. П., Бронников К. А., Микерин С. Л., Бабин С. А.
dc.date2020
dc.date.accessioned2025-08-22T12:18:19Z-
dc.date.available2025-08-22T12:18:19Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\441559
dc.identifier.citationАнализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13082-
dc.languagerus
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника
dc.subjectанализ дефектности
dc.subjectлазерно-индуцированные поверхности
dc.subjectпленки гафния
dc.subjectсфокусированные гауссовы пучки
dc.titleАнализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком
dc.typeText
dc.citation.epage377
dc.citation.spage372
dc.citation.volume1
local.contributor.authorБелоусов Д. А.
local.contributor.authorДостовалов А. В.
local.contributor.authorКорольков В. П.
local.contributor.authorБронников К. А.
local.contributor.authorМикерин С. Л.
local.contributor.authorБабин С. А.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-uporyadochennosti-i-defektnosti-struktur-TLIPPS-sformirovannyh-na-tonkih-plenkah-Hf-astigmaticheskim-gaussovym-puchkom-85172
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-uporyadochennosti-i-defektnosti-struktur-TLIPPS-sformirovannyh-na-tonkih-plenkah-Hf-astigmaticheskim-gaussovym-puchkom-85172
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf426.11 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.