Title: Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ
Authors: Ганчевская С. В.
Скиданов Р. В.
Keywords: квантование фазовой функции
дифракционная эффективность
дифракционные оптические элементы
изготовление дифракционной линзы
уровни квантования
технологические ошибки формирования микрорельефа
технология формирования микрорельефов
Issue Date: 2020
Citation: Ганчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13058
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf682.47 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.