| Title: | Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ |
| Authors: | Ганчевская С. В. Скиданов Р. В. |
| Keywords: | квантование фазовой функции дифракционная эффективность дифракционные оптические элементы изготовление дифракционной линзы уровни квантования технологические ошибки формирования микрорельефа технология формирования микрорельефов |
| Issue Date: | 2020 |
| Citation: | Ганчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13058 |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf | 682.47 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.