1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Информационные технологии и нанотехнологии
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГанчевская С. В.
dc.contributor.authorСкиданов Р. В.
dc.coverage.spatialквантование фазовой функции
dc.coverage.spatialдифракционная эффективность
dc.coverage.spatialдифракционные оптические элементы
dc.coverage.spatialизготовление дифракционной линзы
dc.coverage.spatialуровни квантования
dc.coverage.spatialтехнологические ошибки формирования микрорельефа
dc.coverage.spatialтехнология формирования микрорельефов
dc.creatorГанчевская С. В., Скиданов Р. В.
dc.date2020
dc.date.accessioned2025-08-22T12:18:16Z-
dc.date.available2025-08-22T12:18:16Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\441739
dc.identifier.citationГанчевская, С. В. Исследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ / С. В. Ганчевская, Р. В. Скиданов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 597-602
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13058-
dc.languagerus
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника
dc.subjectквантование фазовой функции
dc.subjectдифракционная эффективность
dc.subjectдифракционные оптические элементы
dc.subjectизготовление дифракционной линзы
dc.subjectуровни квантования
dc.subjectтехнологические ошибки формирования микрорельефа
dc.subjectтехнология формирования микрорельефов
dc.titleИсследование влияния количества уровней квантования и технологических ошибок на ФРТ
dc.typeText
dc.citation.epage602
dc.citation.spage597
dc.citation.volume1
local.contributor.authorГанчевская С. В.
local.contributor.authorСкиданов Р. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-vliyaniya-kolichestva-urovnei-kvantovaniya-i-tehnologicheskih-oshibok-na-FRT-85205
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Issledovanie-vliyaniya-kolichestva-urovnei-kvantovaniya-i-tehnologicheskih-oshibok-na-FRT-85205
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
ИТНТ-2020_том 1-597-602.pdf682.47 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.