Title: Измерение параметров флуктуации интенсивности люминесценции локальных областей кристалла светодиода в режиме электрического пробоя
Authors: Сергеев В. А.
Казанков А. А.
Фролов И. В.
Радаев О. А.
Keywords: преобразования Фурье
электрический пробой
флуктуации излучения
люминесценция
обработка изображений
микроплазма
Issue Date: 2024
Citation: Измерение параметров флуктуации интенсивности люминесценции локальных областей кристалла светодиода в режиме электрического пробоя / В. А. Сергеев, А. А. Казанков, И. В. Фролов, О. А. Радаев // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024) : сб. тр. по материалам X Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 мая 2024 г.): в 6 т. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2024. - Т. 1: Компьютерная оптика и нанофотоника / под ред. Е. С. Козловой. - С. 011362.
Abstract: Описана установка и методика оценкипараметров флуктуации интенсивности излучениякристалла светодиода при микроплазменном пробое,основанная на попиксельной обработке изображений,полученных с высокоскоростной видеокамеры.Приведены результаты измерений и оценки параметровфлуктуации интенсивности излучения микроплазм припробое зеленого светодиода XREGRN-L1. Показано, чтоспектр этих флуктуаций в исследованном диапазонечастот подчиняется закону вида 1/f.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/12032
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2078-6_2024-011362.pdf327.55 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.