Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСергеев В. А.
dc.contributor.authorКазанков А. А.
dc.contributor.authorФролов И. В.
dc.contributor.authorРадаев О. А.
dc.coverage.spatialпреобразования Фурье
dc.coverage.spatialэлектрический пробой
dc.coverage.spatialфлуктуации излучения
dc.coverage.spatialлюминесценция
dc.coverage.spatialобработка изображений
dc.coverage.spatialмикроплазма
dc.creatorСергеев В. А., Казанков А. А., Фролов И. В., Радаев О. А.
dc.date2024
dc.date.accessioned2025-08-22T12:18:08Z-
dc.date.available2025-08-22T12:18:08Z-
dc.date.issued2024
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\563201
dc.identifier.citationИзмерение параметров флуктуации интенсивности люминесценции локальных областей кристалла светодиода в режиме электрического пробоя / В. А. Сергеев, А. А. Казанков, И. В. Фролов, О. А. Радаев // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024) : сб. тр. по материалам X Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 мая 2024 г.): в 6 т. / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2024. - Т. 1: Компьютерная оптика и нанофотоника / под ред. Е. С. Козловой. - С. 011362.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/12032-
dc.description.abstractОписана установка и методика оценкипараметров флуктуации интенсивности излучениякристалла светодиода при микроплазменном пробое,основанная на попиксельной обработке изображений,полученных с высокоскоростной видеокамеры.Приведены результаты измерений и оценки параметровфлуктуации интенсивности излучения микроплазм припробое зеленого светодиода XREGRN-L1. Показано, чтоспектр этих флуктуаций в исследованном диапазонечастот подчиняется закону вида 1/f.
dc.languagerus
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024) : сб. тр. по материалам X Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 20-24 мая 2024 г.): в 6 т.
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2024). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоника
dc.subjectпреобразования Фурье
dc.subjectэлектрический пробой
dc.subjectфлуктуации излучения
dc.subjectлюминесценция
dc.subjectобработка изображений
dc.subjectмикроплазма
dc.titleИзмерение параметров флуктуации интенсивности люминесценции локальных областей кристалла светодиода в режиме электрического пробоя
dc.typeText
dc.citation.spage011362
dc.citation.volume1
local.contributor.authorСергеев В. А.
local.contributor.authorКазанков А. А.
local.contributor.authorФролов И. В.
local.contributor.authorРадаев О. А.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Izmerenie-parametrov-fluktuacii-intensivnosti-luminescencii-lokalnyh-oblastei-kristalla-svetodioda-v-rezhime-elektricheskogo-proboya-112295
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2078-6_2024-011362.pdf327.55 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.