Browsing by Subject дифракционный аксикон

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

or enter first few letters:  
Showing results 1 to 10 of 10
Issue DateTitleAuthor(s)
2025Влияние астигматической аберрации на дифракцию гауссова пучка в ближней зоне дифракционных аксиконовСавельев Д. А.; Хорин П. А.
2019Маломассогабаритные гиперспектрометры на основе дисперсионных элементов, содержащих осесимметричные структурыБланк В. А.
2018Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001>Литвинов А. Ю.; Паранин В. Д.; Бабаев О. А.
2025Моделирование и анализ структуры модифицированного аксикона в качестве оптической ловушкиКречко В. Н.
2017Оптическая система для генерации цилиндрических векторных лазерных пучков на основе аксикона и интерференционного поляризатораХаустова К. Ю.; Карпеев С. В.; Хонина С. Н.
2018Преобразование излучения СО2-лазера с помощью субволновых кремниевых структурГруздев Т. А.; Карпеев С. В.; Хонина С. Н.
2016Применение дифракционного аксикона для ахроматизации дифракционного дублетаПротивень А. Б.; Карпеев С. В.; Хонина С. Н.
2018Управление поляризационным состоянием когерентного излучения, проходящего через многослойную пленочную структуруПопова Е. С.; Карпеев С. В.; Хонина С. Н.
2016Формирование азимутально-поляризованного излучения элементами дифракционной и интерференционной оптикиЛогвиненко Е. В.; Паранин В. Д.; Хонина С. Н.
2017Экспериментальное исследование оптоэлектронного метода измерения толщины одноосных кристаллов а-срезаАнаньев А. В.; Паранин В. Д.; Бабаева О. Г.