| Title: | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов |
| Authors: | Капитонов В. А. |
| Keywords: | технологические процессы полупроводниковые приборы параметры качества лабораторные работы биполярные транзисторы учебные издания точность статистические методы стабильность |
| Issue Date: | 1991 |
| Citation: | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Капитонов Валерий Алексеевич]. - Самара, 1991. - 1 файл (478 Кб) |
| Abstract: | Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре «Микроэлектроника и технология радиоэлектронной аппаратуры». Используемые программы: Adobe Acrobat. Труды сотрудников САИ (электрон. версия). |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40300 |
| Appears in Collections: | Методические издания |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Капитонов В.А. Анализ и исследование 1991.pdf | 478.83 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.