Samara University Repository
Welcome!
| Title: | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов |
| Authors: | Капитонов В. А. |
| Keywords: | биполярные транзисторы лабораторные работы параметры качества полупроводниковые приборы стабильность статистические методы технологические процессы точность учебные издания |
| Issue Date: | 1992 |
| Citation: | Анализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во по делам науки, высш. шк. и техн. политики Рос. Федерации, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. В. А. Капитонов. - Самаpа, 1992. - 1 файл (360 Кб) |
| Abstract: | Рассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составленына кафедре "Микроэлектроника и технология радиоэлектроннойаппаратуры". Используемые программы: Adobe Acrobat. Труды сотрудников Самар. авиац. ин-та (электрон. версия). |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40012 |
| Appears in Collections: | Методические издания |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Алейников Л.В. Анализ и исследование точности 1992.pdf | 360.46 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.