1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 01. Учебные материалы
  3. Методические издания
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКапитонов В. А.
dc.coverage.spatialлабораторные работы
dc.coverage.spatialтехнологические процессы
dc.coverage.spatialточность
dc.coverage.spatialбиполярные транзисторы
dc.coverage.spatialпараметры качества
dc.coverage.spatialучебные издания
dc.coverage.spatialстабильность
dc.coverage.spatialстатистические методы
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборы
dc.date1992
dc.date.accessioned2025-11-26T12:19:27Z-
dc.date.available2025-11-26T12:19:27Z-
dc.date.issued1992
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\438551
dc.identifier.citationАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во по делам науки, высш. шк. и техн. политики Рос. Федерации, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. В. А. Капитонов. - Самаpа, 1992. - 1 файл (360 Кб)
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40012-
dc.description.abstractРассмотрены основные характеристики статистической совокупности. Приведены основные расчетные формулы для определения параметров качества технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов. Оценивается точность и стабильность технологического процесса. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составленына кафедре "Микроэлектроника и технология радиоэлектроннойаппаратуры".
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.
dc.description.abstractТруды сотрудников Самар. авиац. ин-та (электрон. версия).
dc.languagerus
dc.relation.isformatofАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : непосредс
dc.subjectстатистические методы
dc.subjectучебные издания
dc.subjectточность
dc.subjectтехнологические процессы
dc.subjectстабильность
dc.subjectполупроводниковые приборы
dc.subjectпараметры качества
dc.subjectлабораторные работы
dc.subjectбиполярные транзисторы
dc.subject.rugasnti47.13.11
dc.subject.udc621.382.002(075)
dc.titleАнализ и исследование точности технологического процесса изготовления полупроводниковых приборов
dc.typeText
local.contributor.authorСамарский авиационный институт им. С. П. Королева
local.contributor.authorМинистерство по делам науки
local.contributor.authorвысшей школы и технической политики Российской Федерации
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Analiz-i-issledovanie-tochnosti-tehnologicheskogo-processa-izgotovleniya-poluprovodnikovyh-priborov-metod-ukazaniya-k-lab-rabote-Tekst-elektronnyi-83774
Appears in Collections:Методические издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
Алейников Л.В. Анализ и исследование точности 1992.pdf360.46 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.