1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Королевские чтения
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorГусенков В. А.
dc.contributor.authorКричевский С. В.
dc.coverage.spatialэлектрические параметры тонкопленочных резисторов
dc.coverage.spatialионно-электронный отжиг
dc.coverage.spatialионно-электронные потоки
dc.coverage.spatialтонкопленочные резисторы
dc.creatorГусенков В. А.
dc.date1995
dc.date.accessioned2025-08-22T12:14:14Z-
dc.date.available2025-08-22T12:14:14Z-
dc.date.issued1995
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\533917
dc.identifier.citationГусенков, В. А. Исследование влияния ионно-электронного отжига на электрические параметры тонкопленочных резисторов / В. А. Гусенков ; науч. руководитель С. В. Кричевский // Королевские чтения : всерос. студ. науч. конф. : тез. докл., [Самара, 4-5 окт. 1995г.] / Гос. ком. Рос. Федерации по высш. образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; ред. В. Г. Шахов. - Самара : [СГАУ], 1995. - С. 108-109.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/9763-
dc.sourceКоролевские чтения : всерос. студ. науч. конф : тез. докл., [Самара, 4-5 окт. 1995г.]. - Текст : электронный
dc.subjectэлектрические параметры тонкопленочных резисторов
dc.subjectионно-электронный отжиг
dc.subjectионно-электронные потоки
dc.subjectтонкопленочные резисторы
dc.titleИсследование влияния ионно-электронного отжига на электрические параметры тонкопленочных резисторов
dc.typeText
dc.citation.epage109
dc.citation.spage108
local.contributor.authorГусенков В. А.
local.contributor.authorКричевский С. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Korolevskie-chteniya/Issledovanie-vliyaniya-ionnoelektronnogo-otzhiga-na-elektricheskie-parametry-tonkoplenochnyh-rezistorov-103499
Appears in Collections:Королевские чтения

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-108-109.pdf70.96 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.