| Title: | Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем |
| Authors: | Бозриков В. С. |
| Keywords: | число ошибочных решений полупроводниковые микросхемы теории распознавания образов метод потенциальных функций индивидуальное прогнозирование |
| Issue Date: | 2013 |
| Citation: | Бозриков, В. С. Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем / В. С. Бозриков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара, 2013. - С. 53-54. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6969 |
| ISBN: | 978-5-7883-0980-4 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.