Title: Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем
Authors: Бозриков В. С.
Keywords: число ошибочных решений
полупроводниковые микросхемы
теории распознавания образов
метод потенциальных функций
индивидуальное прогнозирование
Issue Date: 2013
Citation: Бозриков, В. С. Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем / В. С. Бозриков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара, 2013. - С. 53-54.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6969
ISBN: 978-5-7883-0980-4
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
53-54.pdfОсновная статья856.02 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.