Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСтолбинский Д. В.
dc.contributor.authorБем П. П.
dc.contributor.authorЗахаренко Н. В.
dc.coverage.spatialиспытания РЭС
dc.coverage.spatialметоды испытаний
dc.coverage.spatialкомбинированные методы
dc.coverage.spatialрадиоэлектронные средства
dc.coverage.spatialРЭС
dc.coverage.spatialмодели испытаний
dc.coverage.spatialфорсированные испытания
dc.creatorСтолбинский Д. В., Бем П. П., Захаренко Н. В.
dc.date2023
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:20Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:20Z-
dc.date.issued2023
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\535741
dc.identifier.citationСтолбинский, Д. В. Форсированные испытания РЭС / Д. В. Столбинский, П. П. Бем, Н. В. Захаренко // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 25-28 апр. 2023 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под. ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2023. - С. 116-118.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6877-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 25-28 апр. 2023 г.). - Текст : электронный
dc.subjectиспытания РЭС
dc.subjectметоды испытаний
dc.subjectкомбинированные методы
dc.subjectрадиоэлектронные средства
dc.subjectРЭС
dc.subjectмодели испытаний
dc.subjectфорсированные испытания
dc.titleФорсированные испытания РЭС
dc.typeText
dc.citation.epage118
dc.citation.spage116
local.contributor.authorСтолбинский Д. В.
local.contributor.authorБем П. П.
local.contributor.authorЗахаренко Н. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Forsirovannye-ispytaniya-RES-103864
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-903943-19-7_2023-116-118.pdf400.5 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.