| Title: | Анализ метода импедансной спектроскопии плазмы |
| Authors: | Кутурин В. А. Колпаков В. А. Кричевский С. В. |
| Keywords: | импедансная спектроскопия износ катода источник низкотемпературной плазмы моделирование |
| Issue Date: | 2022 |
| Citation: | Кутурин, В. А. Анализ метода импедансной спектроскопии плазмы / В. А. Кутурин, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 19-22 апр. 2022 г. / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2022. - С. 99-101. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6740 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-903-943-17-3_2022-99-101.pdf | 179.6 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.