Title: Анализ метода импедансной спектроскопии плазмы
Authors: Кутурин В. А.
Колпаков В. А.
Кричевский С. В.
Keywords: импедансная спектроскопия
износ катода
источник низкотемпературной плазмы
моделирование
Issue Date: 2022
Citation: Кутурин, В. А. Анализ метода импедансной спектроскопии плазмы / В. А. Кутурин, В. А. Колпаков, С. В. Кричевский // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 19-22 апр. 2022 г. / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2022. - С. 99-101.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6740
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-903-943-17-3_2022-99-101.pdf179.6 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.