Title: Диагностический контроль интегральных микросхем
Authors: Ефимов А. А.
Keywords: характеристики энергопотребления
скрытые дефекты
отбраковка изделий
механизмы отказов
методы диагностики
контроль качества
интегральные микросхемы
дифференциальные спектры
вольт-кулонные характеристики
вольт-ваттные характеристики
виды дефектов
Issue Date: 2022
Citation: Ефимов, А. А. Диагностический контроль интегральных микросхем / А. А. Ефимов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 19-22 апр. 2022 г. / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2022. - С. 98-99.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6724
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-903-943-17-3_2022-98-99.pdf177.3 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.