1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМихеева Е. В.
dc.coverage.spatialпоуровневые ранжирования
dc.coverage.spatialпогрешность оценки
dc.coverage.spatialпараметры качества
dc.coverage.spatialплаты
dc.coverage.spatialобработка
dc.coverage.spatialнатекания герметизирующих спаев
dc.coverage.spatialнезакристаллизованные стеклофазы
dc.coverage.spatialаналитическая модель
dc.coverage.spatialвероятности
dc.coverage.spatialдефекты
dc.coverage.spatialграницы
dc.coverage.spatialкоэффициенты Спирмена
dc.coverage.spatialмассовое производство
dc.coverage.spatialметаллизация
dc.coverage.spatialмежоперационный контроль
dc.coverage.spatialметаллокерамические платы
dc.coverage.spatialмикросхемы
dc.coverage.spatialмикрозондовые исследования
dc.coverage.spatialинформативные признаки
dc.coverage.spatialзаготовки
dc.coverage.spatialконтактные площадки
dc.coverage.spatialконтроль
dc.coverage.spatialкоэффициенты Кендалла
dc.coverage.spatialкорпуса
dc.coverage.spatialкорпусы
dc.coverage.spatialкольцевые области разрыва
dc.coverage.spatialэмпирические коэффициенты
dc.coverage.spatialэлектронно-микроскопические
dc.coverage.spatialфункционально-диагностические модели
dc.coverage.spatialшероховатости
dc.coverage.spatialэкспертные оценки
dc.coverage.spatialтопологии
dc.coverage.spatialупрочнения
dc.coverage.spatialсфероидные кристаллизации стеклофаз
dc.coverage.spatialсквозные ранжирования
dc.coverage.spatialскол
dc.coverage.spatialскалывание
dc.coverage.spatialструктурные образования
dc.coverage.spatialсравнительный анализ
dc.coverage.spatialспаи
dc.coverage.spatialспекание
dc.coverage.spatialрегрессионная модель
dc.coverage.spatialранговая корреляция
dc.coverage.spatialпрограммно-следственные связи
dc.coverage.spatialпричинно-следственные диаграммы
dc.creatorМихеева Е. В.
dc.date2004
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:38Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:38Z-
dc.date.issued2004
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\469515
dc.identifier.citationМихеева, Е. В. Контроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производства. - Текст : электронный / Е. В. Михеева // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 55-56
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6689-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный
dc.subjectпоуровневые ранжирования
dc.subjectпогрешность оценки
dc.subjectпараметры качества
dc.subjectплаты
dc.subjectобработка
dc.subjectнатекания герметизирующих спаев
dc.subjectнезакристаллизованные стеклофазы
dc.subjectаналитическая модель
dc.subjectвероятности
dc.subjectдефекты
dc.subjectграницы
dc.subjectкоэффициенты Спирмена
dc.subjectмассовое производство
dc.subjectметаллизация
dc.subjectмежоперационный контроль
dc.subjectметаллокерамические платы
dc.subjectмикросхемы
dc.subjectмикрозондовые исследования
dc.subjectинформативные признаки
dc.subjectзаготовки
dc.subjectконтактные площадки
dc.subjectконтроль
dc.subjectкоэффициенты Кендалла
dc.subjectкорпуса
dc.subjectкорпусы
dc.subjectкольцевые области разрыва
dc.subjectэмпирические коэффициенты
dc.subjectэлектронно-микроскопические
dc.subjectфункционально-диагностические модели
dc.subjectшероховатости
dc.subjectэкспертные оценки
dc.subjectтопологии
dc.subjectупрочнения
dc.subjectсфероидные кристаллизации стеклофаз
dc.subjectсквозные ранжирования
dc.subjectскол
dc.subjectскалывание
dc.subjectструктурные образования
dc.subjectсравнительный анализ
dc.subjectспаи
dc.subjectспекание
dc.subjectрегрессионная модель
dc.subjectранговая корреляция
dc.subjectпрограммно-следственные связи
dc.subjectпричинно-следственные диаграммы
dc.titleКонтроль спаев металлокерамических плат и корпусов микросхем в условиях массового производства
dc.typeText
dc.citation.epage56
dc.citation.spage55
local.contributor.authorМихеева Е. В.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-spaev-metallokeramicheskih-plat-i-korpusov-mikroshem-v-usloviyah-massovogo-proizvodstva-92575
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Kontrol-spaev-metallokeramicheskih-plat-i-korpusov-mikroshem-v-usloviyah-massovogo-proizvodstva-92575
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-55-56.pdf114.7 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.