| Title: | Метод диагностирования БМК по температурным режимам |
| Authors: | Цирлов А. М. |
| Keywords: | надежность модули модель параметры платы ACL-8216 диагностирование дефекты БМК базовые элементы качество контроль конструкции интегральные микросхемы интеграция испытания ИС методы многомерный анализ микросхемы кристаллы электрофизические характеристики ЭТТ типономиналы циклы хранение данных программно-аппаратный комплекс ПЭВМ саморазогрев САПР стабилизация статистический анализ себестоимость разработки температуры температурные режимы технологические процессы тесты технологические операции |
| Issue Date: | 2004 |
| Citation: | Цирлов, А. М. Метод диагностирования БМК по температурным режимам. - Текст : электронный / А. М. Цирлов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 53-54 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6688 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-53-54.pdf | 105.28 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.