Title: Метод диагностирования БМК по температурным режимам
Authors: Цирлов А. М.
Keywords: надежность
модули
модель
параметры
платы ACL-8216
диагностирование
дефекты
БМК
базовые элементы
качество
контроль
конструкции
интегральные микросхемы
интеграция
испытания
ИС
методы
многомерный анализ
микросхемы
кристаллы
электрофизические характеристики
ЭТТ
типономиналы
циклы
хранение данных
программно-аппаратный комплекс
ПЭВМ
саморазогрев
САПР
стабилизация
статистический анализ
себестоимость разработки
температуры
температурные режимы
технологические процессы
тесты
технологические операции
Issue Date: 2004
Citation: Цирлов, А. М. Метод диагностирования БМК по температурным режимам. - Текст : электронный / А. М. Цирлов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 53-54
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6688
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-53-54.pdf105.28 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.