Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Демаков Ю. П. | |
| dc.contributor.author | Пенякин Ю. М. | |
| dc.coverage.spatial | порошки | |
| dc.coverage.spatial | остаточное давление | |
| dc.coverage.spatial | оксидные конденсаторы | |
| dc.coverage.spatial | нормы | |
| dc.coverage.spatial | плотности | |
| dc.coverage.spatial | пленки | |
| dc.coverage.spatial | аноды | |
| dc.coverage.spatial | вакуумные печи | |
| dc.coverage.spatial | газофазные осаждения | |
| dc.coverage.spatial | диэлектрические потери | |
| dc.coverage.spatial | добавки | |
| dc.coverage.spatial | давление прессования | |
| dc.coverage.spatial | масса навесок | |
| dc.coverage.spatial | методы спектрального анализа | |
| dc.coverage.spatial | зерно | |
| dc.coverage.spatial | К52-1 | |
| dc.coverage.spatial | конденсаторы | |
| dc.coverage.spatial | электрокорунд | |
| dc.coverage.spatial | токи утечки | |
| dc.coverage.spatial | удельная емкость | |
| dc.coverage.spatial | фазы | |
| dc.coverage.spatial | режимы спекания | |
| dc.coverage.spatial | рентгеноструктурный анализ | |
| dc.coverage.spatial | рабочее напряжение | |
| dc.coverage.spatial | присадки | |
| dc.coverage.spatial | примеси | |
| dc.coverage.spatial | спекание | |
| dc.coverage.spatial | ТДК | |
| dc.coverage.spatial | тангенс угла | |
| dc.coverage.spatial | тантал | |
| dc.coverage.spatial | танталовые конденсаторы | |
| dc.coverage.spatial | тантало-диэлектрические композиции | |
| dc.creator | Демаков Ю. П., Пенякин Ю. М. | |
| dc.date | 2004 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-22T12:09:37Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-22T12:09:37Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\468257 | |
| dc.identifier.citation | Демаков, Ю. П. Влияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечки. - Текст : эле / Ю. П. Демаков, Ю. М. Пенякин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 33-34 | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6679 | - |
| dc.language | rus | |
| dc.source | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный | |
| dc.subject | порошки | |
| dc.subject | остаточное давление | |
| dc.subject | оксидные конденсаторы | |
| dc.subject | нормы | |
| dc.subject | плотности | |
| dc.subject | пленки | |
| dc.subject | аноды | |
| dc.subject | вакуумные печи | |
| dc.subject | газофазные осаждения | |
| dc.subject | диэлектрические потери | |
| dc.subject | добавки | |
| dc.subject | давление прессования | |
| dc.subject | масса навесок | |
| dc.subject | методы спектрального анализа | |
| dc.subject | зерно | |
| dc.subject | К52-1 | |
| dc.subject | конденсаторы | |
| dc.subject | электрокорунд | |
| dc.subject | токи утечки | |
| dc.subject | удельная емкость | |
| dc.subject | фазы | |
| dc.subject | режимы спекания | |
| dc.subject | рентгеноструктурный анализ | |
| dc.subject | рабочее напряжение | |
| dc.subject | присадки | |
| dc.subject | примеси | |
| dc.subject | спекание | |
| dc.subject | ТДК | |
| dc.subject | тангенс угла | |
| dc.subject | тантал | |
| dc.subject | танталовые конденсаторы | |
| dc.subject | тантало-диэлектрические композиции | |
| dc.title | Влияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечки | |
| dc.type | Text | |
| dc.citation.epage | 34 | |
| dc.citation.spage | 33 | |
| local.contributor.author | Демаков Ю. П. | |
| local.contributor.author | Пенякин Ю. М. | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vliyanie-rezhimov-spekaniya-anodov-oksidnyh-kondensatorov-iz-poroshkov-tantalodielektricheskih-kompozicii-TDK-na-velichinu-ih-toka-utechki-92563 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vliyanie-rezhimov-spekaniya-anodov-oksidnyh-kondensatorov-iz-poroshkov-tantalodielektricheskih-kompozicii-TDK-na-velichinu-ih-toka-utechki-92563 | |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Стр.-33-34.pdf | 108.8 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.