Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДемаков Ю. П.
dc.contributor.authorПенякин Ю. М.
dc.coverage.spatialпорошки
dc.coverage.spatialостаточное давление
dc.coverage.spatialоксидные конденсаторы
dc.coverage.spatialнормы
dc.coverage.spatialплотности
dc.coverage.spatialпленки
dc.coverage.spatialаноды
dc.coverage.spatialвакуумные печи
dc.coverage.spatialгазофазные осаждения
dc.coverage.spatialдиэлектрические потери
dc.coverage.spatialдобавки
dc.coverage.spatialдавление прессования
dc.coverage.spatialмасса навесок
dc.coverage.spatialметоды спектрального анализа
dc.coverage.spatialзерно
dc.coverage.spatialК52-1
dc.coverage.spatialконденсаторы
dc.coverage.spatialэлектрокорунд
dc.coverage.spatialтоки утечки
dc.coverage.spatialудельная емкость
dc.coverage.spatialфазы
dc.coverage.spatialрежимы спекания
dc.coverage.spatialрентгеноструктурный анализ
dc.coverage.spatialрабочее напряжение
dc.coverage.spatialприсадки
dc.coverage.spatialпримеси
dc.coverage.spatialспекание
dc.coverage.spatialТДК
dc.coverage.spatialтангенс угла
dc.coverage.spatialтантал
dc.coverage.spatialтанталовые конденсаторы
dc.coverage.spatialтантало-диэлектрические композиции
dc.creatorДемаков Ю. П., Пенякин Ю. М.
dc.date2004
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:37Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:37Z-
dc.date.issued2004
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\468257
dc.identifier.citationДемаков, Ю. П. Влияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечки. - Текст : эле / Ю. П. Демаков, Ю. М. Пенякин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; [под ред. И. Г. Мироненко, М. Н. Пиганова]. - 2004. - С. 33-34
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6679-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 31 мая - 4 июня 2004 г. - Текст : электронный
dc.subjectпорошки
dc.subjectостаточное давление
dc.subjectоксидные конденсаторы
dc.subjectнормы
dc.subjectплотности
dc.subjectпленки
dc.subjectаноды
dc.subjectвакуумные печи
dc.subjectгазофазные осаждения
dc.subjectдиэлектрические потери
dc.subjectдобавки
dc.subjectдавление прессования
dc.subjectмасса навесок
dc.subjectметоды спектрального анализа
dc.subjectзерно
dc.subjectК52-1
dc.subjectконденсаторы
dc.subjectэлектрокорунд
dc.subjectтоки утечки
dc.subjectудельная емкость
dc.subjectфазы
dc.subjectрежимы спекания
dc.subjectрентгеноструктурный анализ
dc.subjectрабочее напряжение
dc.subjectприсадки
dc.subjectпримеси
dc.subjectспекание
dc.subjectТДК
dc.subjectтангенс угла
dc.subjectтантал
dc.subjectтанталовые конденсаторы
dc.subjectтантало-диэлектрические композиции
dc.titleВлияние режимов спекания анодов оксидных конденсаторов из порошков тантало-диэлектрических композиций (ТДК) на величину их тока утечки
dc.typeText
dc.citation.epage34
dc.citation.spage33
local.contributor.authorДемаков Ю. П.
local.contributor.authorПенякин Ю. М.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vliyanie-rezhimov-spekaniya-anodov-oksidnyh-kondensatorov-iz-poroshkov-tantalodielektricheskih-kompozicii-TDK-na-velichinu-ih-toka-utechki-92563
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Vliyanie-rezhimov-spekaniya-anodov-oksidnyh-kondensatorov-iz-poroshkov-tantalodielektricheskih-kompozicii-TDK-na-velichinu-ih-toka-utechki-92563
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-33-34.pdf108.8 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.