Title: Анализ надёжности РЭС на основе туннельных диодов
Authors: Сорокина, А.Ю.
Issue Date: Apr-2021
Publisher: ООО «АРТЕЛЬ»
Citation: Сорокина, А.Ю. Анализ надёжности РЭС на основе туннельных диодов / А.Ю. Сорокина // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций: материалы Всероссийской научно-технической конференции (г. Самара, 21-23 апреля 2021г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева, под. ред. А. И. Данилина - Самара: ООО «АРТЕЛЬ», 2021. – С. 133-135.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6646
ISBN: 978-5-903943-15-9
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
133-135.pdfСтатья517.26 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.