1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 04. Материалы конференций
  3. Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИвлиев Н. А.
dc.contributor.authorКолпаков В. А.
dc.coverage.spatialатомно-силовая микроскопия
dc.coverage.spatialадсорбция загрязнений
dc.coverage.spatialдиоксид кремния
dc.coverage.spatialконцентрация органических загрязнений
dc.coverage.spatialорганические загрязнения
dc.coverage.spatialнанофотоника
dc.coverage.spatialнаноэлектроника
dc.creatorИвлиев Н. А., Колпаков В. А.
dc.date2017
dc.date.accessioned2025-08-22T12:09:28Z-
dc.date.available2025-08-22T12:09:28Z-
dc.date.issued2017
dc.identifier.identifierDspace\SGAU\20180203\67235
dc.identifier.citationИвлиев, Н. А. Определение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии / Н. А. Ивлиев, В. А. Колпаков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 182-185.
dc.identifier.isbn978-5-473-01143-2
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6421-
dc.languagerus
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.)
dc.subjectатомно-силовая микроскопия
dc.subjectадсорбция загрязнений
dc.subjectдиоксид кремния
dc.subjectконцентрация органических загрязнений
dc.subjectорганические загрязнения
dc.subjectнанофотоника
dc.subjectнаноэлектроника
dc.subject.udc53.082.1
dc.titleОпределение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии
dc.typeText
dc.citation.epage185
dc.citation.spage182
local.contributor.authorИвлиев Н. А.
local.contributor.authorКолпаков В. А.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Opredelenie-koncentracii-organicheskih-zagryaznenii-na-poverhnosti-dioksida-kremniya-metodami-atomnosilovoi-mikroskopii-67235
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
182-184.pdfОпределение концентрации органических загрязнений на поверхности диоксида кремния методами атомно-силовой микроскопии471.44 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.