Title: Модели отказов в интегральных микросхемах
Authors: Рожков А. А.
Keywords: помехозащищенность
полупроводниковые микросхемы
диффузия материала проводника
модели отказов
интегральные микросхемы
короткое замыкание
Issue Date: 2017
Citation: Рожков, А. А. Модели отказов в интегральных микросхемах / А. А. Рожков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 16-18 мая 2017 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : ООО "Офорт", 2017. - С. 115-116.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6406
ISBN: 978-5-473-01143-2
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
115-116.pdfМодели отказов в интегральных микросхемах436.22 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.