Title: Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов
Authors: Курылева П. А.
Боранбаев М. С.
Keywords: контроль электромагнитных параметров
библиографические исследования
тонкие пленки
патентные исследования
наноматериалы
прибор диагностики материалов
Issue Date: 2015
Citation: Курылева, П. А. Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / П. А. Курылева, М. С. Боранбаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : СНЦ РАН, 2015. - С. 100-102.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6355
ISBN: 978-5-906605-57-3
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
100-102.pdfОсновная статья127.7 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.