| Title: | Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов |
| Authors: | Курылева П. А. Боранбаев М. С. |
| Keywords: | контроль электромагнитных параметров библиографические исследования тонкие пленки патентные исследования наноматериалы прибор диагностики материалов |
| Issue Date: | 2015 |
| Citation: | Курылева, П. А. Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / П. А. Курылева, М. С. Боранбаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : СНЦ РАН, 2015. - С. 100-102. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6355 |
| ISBN: | 978-5-906605-57-3 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 100-102.pdf | Основная статья | 127.7 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.