Title: Повышение достоверности автоматизированной отбраковки мощных транзисторов
Authors: Чернобровин Н. Г.
Пиганов М. Н.
Keywords: автоматизированная отбраковка
дефекты омических контактов
короткое замыкание
тепловая неустойчивость токораспределения
мощные транзиторы
отбраковка транзисторов
Issue Date: 2018
Citation: Чернобровин, Н. Г. Повышение достоверности автоматизированной отбраковки мощных транзисторов / Н. Г. Чернобровин, М. Н. Пиганов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всероc. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15-17 мая 2018 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - 2018. - С. 173-174. - ISBN = 978-5-473-01191-3
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6189
ISBN: 978-5-473-01191-3
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
173-174.pdfПовышение достоверности автоматизированной отбраковки мощных транзисторов319.35 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.