Title: Радиационная стойкость интегральных микросхем
Authors: Столбинский Д. В.
Keywords: экранирование
диэлектрики
интегральная микросхема
помехозащищенность
радиационная стойкость
Issue Date: 2018
Citation: Столбинский, Д. В. Радиационная стойкость интегральных микросхем / Д. В. Столбинский // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всероc. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15-17 мая 2018 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - 2018. - С. 170-172. - ISBN = 978-5-473-01191-3
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6153
ISBN: 978-5-473-01191-3
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
170-172.pdfРадиационная стойкость интегральных микросхем225.12 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.