| Title: | Обзор методов определения микронеровностей поверхности |
| Authors: | Лефаров Р. Ю. Данилин С. А. |
| Keywords: | оптический дистанционный контроль микронеровности поверхности метод зеркальной составляющей интерферометрический метод волнистость поверхности |
| Issue Date: | 2018 |
| Citation: | Лефаров, Р. Ю. Обзор методов определения микронеровностей поверхности / Р. Ю. Лефаров, С. А. Данилин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всероc. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15-17 мая 2018 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - 2018. - С. 88-90. - ISBN = 978-5-473-01191-3 |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6123 |
| ISBN: | 978-5-473-01191-3 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 88-90.pdf | Обзор методов определения микронеровностей поверхности | 345.2 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.