Title: Обзор методов определения микронеровностей поверхности
Authors: Лефаров Р. Ю.
Данилин С. А.
Keywords: оптический дистанционный контроль
микронеровности поверхности
метод зеркальной составляющей
интерферометрический метод
волнистость поверхности
Issue Date: 2018
Citation: Лефаров, Р. Ю. Обзор методов определения микронеровностей поверхности / Р. Ю. Лефаров, С. А. Данилин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всероc. науч.-техн. конф. (г. Самара, 15-17 мая 2018 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. А. И. Данилина. - 2018. - С. 88-90. - ISBN = 978-5-473-01191-3
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6123
ISBN: 978-5-473-01191-3
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
88-90.pdfОбзор методов определения микронеровностей поверхности345.2 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.