Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorИсматов Н. М.ru
dc.contributor.authorМадаминов Б. Н.ru
dc.contributor.authorМахкамов Ш. М.ru
dc.contributor.authorТашметов М. Ю.ru
dc.date.accessioned2026-01-23T11:29:00Z-
dc.date.available2026-01-23T11:29:00Z-
dc.date.issued2025-
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\582139ru
dc.identifier.citationИсследование морфологии поверхности и микротвердости кристаллов ZnSe при электронном облучении / М. Ю. Ташметов, Б. Н. Мадаминов, Ш. М. Махкамов, Н. М. Исматов // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2025) : материалы XI междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самарканд, Узбекистан, 7-9 окт. 2025 г.) / М-во науки и высш. образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т). - Самара : Изд-во Самар. ун-та, 2025. - С. 061602.ru
dc.identifier.isbnru
dc.identifier.issnru
dc.identifier.ismnru
dc.identifier.npsru
dc.identifier.orcidru
dc.description.abstractИсследовано влияние электронного облучения с энергией 2 МэВ и различными флюенсами на морфологию поверхности и микротвердость кристаллов селенид цинка (ZnSe). Установлено, что электронное облучение приводит к уменьшению шероховатости поверхности и росту микротвердости. Полученные результаты свидетельствуют о перспективности метода электронного облучения для модификации структурных и механических свойств ZnSe, что может быть полезно при использовании в оптоэлектронных устройствах.ru
dc.description.firstpage061602ru
dc.format.extentru
dc.format.mimetypeTextru
dc.language.isorusru
dc.publisherPublisherru
dc.rightsLicenseru
dc.sourceSourceru
dc.textpart-
dc.subjectмикротвердостьru
dc.subjectморфология поверхностиru
dc.subjectселенид цинкаru
dc.subjectшероховатостьru
dc.subjectэлектронное облучениеru
dc.subject.rubbkru
dc.subject.rugasntiru
dc.subject.udcru
dc.titleИсследование морфологии поверхности и микротвердости кристаллов ZnSe при электронном облученииru
dc.title.alternativeru
dc.typeType Textru
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-2262-9_2025-373-374.pdf83.37 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.