Title: Методика исследования характеристик тонкопленочных элементов интегральных микросхем
Authors: Соколов И. А.
Меркулов А. И.
Keywords: интегральные микросхемы
блок-схема программы исследований
выбор материалов
методика исследований
конструирование интегральных микросхем
программное обеспечение
тонкопленочные элементы
учебный курс
Issue Date: 2009
Citation: Соколов, И. А. Методика исследования характеристик тонкопленочных элементов интегральных микросхем / И. А. Соколов, А. И. Меркулов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - Ч. 2. - С. 97-98.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/6055
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0672-8_2009-97-98.pdf99.79 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.