| Title: | Исследование характеристик тонкопленочных элементов интегральных микросхем |
| Authors: | Лукин В. В. |
| Keywords: | тонкопленочные резисторы программное обеспечение конструктивные параметры методика исследования интегральные микросхемы Visual Studio.Net |
| Issue Date: | 2010 |
| Citation: | Лукин, В. В. Исследование характеристик тонкопленочных элементов интегральных микросхем / В. В. Лукин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 25-27 мая 2010 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2010. - С. 155-156. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5989 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-7883-0819-7_2010-155-156.pdf | 100.32 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.