Title: Исследование механизма неустойчивости в биполярных структурах
Authors: Чернобровин Н. Г.
Keywords: биполярные структуры
динамическая электромагнитная неустойчивость
критерии оценки качества
полупроводниковые приборы
транзисторы
физико-математические модели
Issue Date: 2009
Citation: Чернобровин, Н. Г. Исследование механизма неустойчивости в биполярных структурах / Н. Г. Чернобровин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 164-165.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5913
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-7883-0672-8_2009-164-165.pdf95.06 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.