Title: Исследование высоковольтных генераторов EEPROM на устойчивость к воздействию радиации
Authors: Филатов С. А.
Семенов С. Ф.
Максимов А. К.
Попов А. В.
Keywords: схемотехнические решения
управляемый пробой
структурная схема
предельная накопленная доза
ПЛИС
микросхемы энергонезависимой памяти
исследование устойчивости
EEPROM
выходное напряжение
высоковольтные генераторы
воздействие радиации
Issue Date: 2024
Citation: Исследование высоковольтных генераторов EEPROM на устойчивость к воздействию радиации / С. А. Филатов, С. Ф. Семенов, А. К. Максимов, А. В. Попов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 23-26 апр. 2024 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. В. А. Зеленского. - Самара : [Артель], 2024. - С. 254-256.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5857
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-903943-20-3_2024-254-256.pdf250.61 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.