| Title: | Оптимизация блока тестирования статической памяти |
| Authors: | Бобров А. А. |
| Keywords: | тестирование вычислительных систем многократное тестирование запоминающие устройства математические модели неисправностей маршевые тесты памяти |
| Issue Date: | 2023 |
| Citation: | Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования статической памяти / А. А. Бобров // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 25-28 апр. 2023 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под. ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2023. - С. 203-205. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5518 |
| Appears in Collections: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| 978-5-903943-19-7_2023-203-205.pdf | 392.46 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.