Title: Оптимизация блока тестирования статической памяти
Authors: Бобров А. А.
Keywords: тестирование вычислительных систем
многократное тестирование
запоминающие устройства
математические модели неисправностей
маршевые тесты памяти
Issue Date: 2023
Citation: Бобров, А. А. Оптимизация блока тестирования статической памяти / А. А. Бобров // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 25-28 апр. 2023 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под. ред. А. И. Данилина. - Самара : Артель, 2023. - С. 203-205.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/5518
Appears in Collections:Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Files in This Item:
File SizeFormat 
978-5-903943-19-7_2023-203-205.pdf392.46 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.