Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДоброва М. В.
dc.contributor.authorЩербак А. В.
dc.coverage.spatialэлектрофизические параметры
dc.coverage.spatialпленочные структуры
dc.coverage.spatialполупроводники
dc.coverage.spatialэндотаксия
dc.coverage.spatialзаполнение сечения волновода
dc.coverage.spatialкарбид кремния
dc.coverage.spatialSiC/Si структуры
dc.coverage.spatialсверхвысокие частоты
dc.coverage.spatialмагнетронное распыление
dc.coverage.spatialволноводы
dc.creatorДоброва М. В.
dc.date2019
dc.date.accessioned2025-11-27T12:32:17Z-
dc.date.available2025-11-27T12:32:17Z-
dc.date.issued2019
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20191218135629
dc.identifier.citationДоброва, М. В. Электрофизические свойства структур «карбид кремния на кремнии» и «карбид кремния на поликоре» на сверхвысоких частотах : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 03.03.02 "Физика" (уровень бакалавриата) / М. В. Доброва ; рук. работы А. В. Щербак ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Физ. фак-т, Каф. физики тверд. тела и неравновес. систем. - Самара, 2019. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/51712-
dc.description.abstractОбъектом исследования является структуры карбид кремния на кремнии и карбид кремния на поликоре, получаемых методом эндотаксии и ВЧ магнетронного распыления. Предметом исследования являются электрофизические параметры исследуемых структур. Цель данной работы: экспериментально определить удельное сопротивление тонких пленок карбида кремния на монокристаллических (кремний, сапфир) и поликристаллических (поликор) подложках, полученные с помощью волновода частично перекрытого образцом. В первой главе рассмотрены свойства и некоторые методы получения тонкопленочных структур карбида кремния. Вторая глава посвящена методам исследования электрофизических параметров полупроводниковых материалов. В третьей главе представлены результаты исследования структур карбид кремния на кремнии и поликоре. Результаты данной работы могут быть использованы в области разработки полупроводниковых микроэлектронных приборов для экстремальной электроники и аэрокосмического приборостроения.
dc.subjectSiC/Si структуры
dc.subjectволноводы
dc.subjectзаполнение сечения волновода
dc.subjectкарбид кремния
dc.subjectмагнетронное распыление
dc.subjectпленочные структуры
dc.subjectполупроводники
dc.subjectсверхвысокие частоты
dc.subjectэлектрофизические параметры
dc.subjectэндотаксия
dc.subject.rugasnti29.01
dc.subject.udc538.9
dc.titleЭлектрофизические свойства структур «карбид кремния на кремнии» и «карбид кремния на поликоре» на сверхвысоких частотах
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство образования и науки России
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorЕстественнонаучный институт
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Elektrofizicheskie-svoistva-struktur-«karbid-kremniya-na-kremnii»-i-«karbid-kremniya-na-polikore»-na-sverhvysokih-chastotah-vyp-kvalifikac-rabota-po-napravleniu-podgot-030302-Fizika-uroven-bakalavriata-82705
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.