1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 05. Выпускные квалификационные работы
  3. Выпускные квалификационные работы
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБанталов А. А.
dc.contributor.authorКозлова И. Н.
dc.contributor.authorЛизункова Д. А.
dc.coverage.spatialпроектирование BIST
dc.coverage.spatialэлектроника
dc.coverage.spatialцифровые ячейки блочной памяти
dc.coverage.spatialблоки тестирования
dc.coverage.spatialмоделирование ошибок
dc.creatorБанталов А. А.
dc.date2020
dc.date.accessioned2025-11-27T12:27:13Z-
dc.date.available2025-11-27T12:27:13Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20200914150546
dc.identifier.citationБанталов, А. А. Оптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Банталов ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Лизункова ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники,. - Самара, 2020. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/51293-
dc.description.abstractЦелью работы является оптимизация и реализация блока тестированияцифровой ячейки блочной памяти на Verilog.Результаты данной дипломной работы могут быть использованы дляразработки блоков самотестирования для цифровых ячеек памяти.
dc.subjectмоделирование ошибок
dc.subjectблоки тестирования
dc.subjectэлектроника
dc.subjectцифровые ячейки блочной памяти
dc.subjectпроектирование BIST
dc.subject.rugasnti50.01
dc.subject.udc004.9
dc.titleОптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памяти
dc.typeText
local.contributor.authorматематики и электроники
local.contributor.authorМинистерство образования и науки России
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Optimizaciya-bloka-testirovaniya-cifrovyh-yacheek-blochnoi-pamyati-vyp-kvalifikac-rabota-po-napravleniu-podgot-110304-Elektronika-i-nanoelektronika-uroven-bakalavriata-87676
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Банталов_Артём_Алексеевич_Оптимизация_блока_тестирования_цифровых.pdf1.47 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.