Title: Устройство контроля качества полупроводниковых структур
Authors: Холод Н. В.
Иванов В. В.
Глазунов В. А.
Keywords: дефекты в полупроводниках
измерительные преобразователи
надежность
полупроводниковая диодная структура
устройство коммутации
Issue Date: 2016
Citation: Холод, Н. В. Устройство контроля качества полупроводниковых структур : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / Н. В. Холод ; рук. работы В. В. Иванов ; рец. В. А. Глазунов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники и при. - Самара, 2016. - on-line
Abstract: В данном дипломном проекте, на основе теоретических расчетов, предложена методика определения энергии ионизации глубоких уровней (ГУ) захвата в полупроводниковых структурах. Создана структурная схема установки, позволяющая автоматизировать процесс измерен
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/50447
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.