| Title: | Устройство контроля качества полупроводниковых структур |
| Authors: | Холод Н. В. Иванов В. В. Глазунов В. А. |
| Keywords: | дефекты в полупроводниках измерительные преобразователи надежность полупроводниковая диодная структура устройство коммутации |
| Issue Date: | 2016 |
| Citation: | Холод, Н. В. Устройство контроля качества полупроводниковых структур : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / Н. В. Холод ; рук. работы В. В. Иванов ; рец. В. А. Глазунов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники и при. - Самара, 2016. - on-line |
| Abstract: | В данном дипломном проекте, на основе теоретических расчетов, предложена методика определения энергии ионизации глубоких уровней (ГУ) захвата в полупроводниковых структурах. Создана структурная схема установки, позволяющая автоматизировать процесс измерен |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/50447 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Холод_Устройство_контроля_качества_полупроводниковых.pdf | 1.59 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.