1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 05. Выпускные квалификационные работы
  3. Выпускные квалификационные работы
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorДорохин Н. В.
dc.contributor.authorТюлевин С. В.
dc.contributor.authorНаседкин А. В.
dc.coverage.spatialтехнико-экономическое обоснование
dc.coverage.spatialустройство выделения импульса рассогласования
dc.coverage.spatialцифровая микросхема
dc.coverage.spatialзадатчик-формирователь импульсов
dc.coverage.spatialэлектрофизическая диагностика
dc.coverage.spatialадаптер
dc.creatorДорохин Н. В.
dc.date2016
dc.date.accessioned2025-11-27T12:13:22Z-
dc.date.available2025-11-27T12:13:22Z-
dc.date.issued2016
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20160413141125_1
dc.identifier.citationДорохин, Н. В. Устройство электрофизической диагностики микросхем КМОП типа : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / Н. В. Дорохин ; рук. работы С. В. Тюлевин ; рец. А. В. Наседкин ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники и. - Самара, 2016. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/50425-
dc.description.abstractВ дипломном проекте разработано устройство электрофизической диагностики цифровых микросхем.Проведены расчет надежности, поверочный электрический расчет, тепловой расчет. Разработана конструкция адаптера для подключения микросхем. Дано технико-экономическое обоснование целесообразности разработки, определены вредные и опасные факторы и разработаны меры безопасности при эксплуатации установки. Экономический эффект от внедрения составляет 127583 руб.
dc.subjectэлектрофизическая диагностика
dc.subjectустройство выделения импульса рассогласования
dc.subjectцифровая микросхема
dc.subjectадаптер
dc.subjectзадатчик-формирователь импульсов
dc.subjectтехнико-экономическое обоснование
dc.subject.rugasnti47.33.31
dc.subject.udc621.382.049.77
dc.titleУстройство электрофизической диагностики микросхем КМОП типа
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.contributor.authorКафедра конструирования и технологии электронных систем и устройств
local.contributor.authorИнститут электроники и приборостроения
local.contributor.authorСамарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ)
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/VKR/Ustroistvo-elektrofizicheskoi-diagnostiki-mikroshem-KMOP-tipa-Elektronnyi-resurs-vyp-kvalifikac-rabota-po-specialnosti-Proektirovanie-i-tehnologiya-radioelektron-sredstv-58576
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Дорохин_Устройство_электрофизической_диагностики_микросхем.pdf1.14 MBAdobe PDFView/Open    Request a copy
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.