Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Литвинов А. Ю. | |
| dc.contributor.author | Паранин В. Д. | |
| dc.contributor.author | Бабаев О. А. | |
| dc.coverage.spatial | ниобат лития | |
| dc.coverage.spatial | пучок Бесселя | |
| dc.coverage.spatial | дифракционный аксикон | |
| dc.coverage.spatial | метод измерения толщины | |
| dc.coverage.spatial | одноосные кристаллы | |
| dc.coverage.spatial | оптическая ось | |
| dc.creator | Литвинов А. Ю. | |
| dc.date | 2018 | |
| dc.date.accessioned | 2025-11-27T12:30:06Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-27T12:30:06Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180717131834 | |
| dc.identifier.citation | Литвинов, А. Ю. Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. Ю. Литвинов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. А. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2018. - on-line | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/48639 | - |
| dc.description.abstract | Объектом исследования является дифракционно-поляризационныйметод измерения толщины одноосных кристаллов ориентации <001>.Цель работы: развитие методических основ измерения толщиныодноосных кристаллов ориентации <001> на основе преобразования пучкаБесс | |
| dc.subject | дифракционный аксикон | |
| dc.subject | метод измерения толщины | |
| dc.subject | ниобат лития | |
| dc.subject | одноосные кристаллы | |
| dc.subject | оптическая ось | |
| dc.subject | пучок Бесселя | |
| dc.subject.rugasnti | 29.31 | |
| dc.subject.udc | 535.42 | |
| dc.title | Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> | |
| dc.type | Text | |
| local.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | |
| local.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | |
| local.contributor.author | Институт информатики | |
| local.contributor.author | математики и электроники | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Metod-izmereniya-tolshiny-odnoosnyh-kristallov-niobata-litiya-orientacii-001-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Elektronika-i-nanoelektronika-74751 | |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Литвинов_Алексей_Юрьевич_Метод_измерения_толщины_одноосных.pdf | 1.49 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.