Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛитвинов А. Ю.
dc.contributor.authorПаранин В. Д.
dc.contributor.authorБабаев О. А.
dc.coverage.spatialниобат лития
dc.coverage.spatialпучок Бесселя
dc.coverage.spatialдифракционный аксикон
dc.coverage.spatialметод измерения толщины
dc.coverage.spatialодноосные кристаллы
dc.coverage.spatialоптическая ось
dc.creatorЛитвинов А. Ю.
dc.date2018
dc.date.accessioned2025-11-27T12:30:06Z-
dc.date.available2025-11-27T12:30:06Z-
dc.date.issued2018
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20180717131834
dc.identifier.citationЛитвинов, А. Ю. Метод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001> : вып. квалификац. работа по спец. "Электроника и наноэлектроника" / А. Ю. Литвинов ; рук. работы В. Д. Паранин; рец. О. А. Бабаев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и элект. - Самара, 2018. - on-line
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/48639-
dc.description.abstractОбъектом исследования является дифракционно-поляризационныйметод измерения толщины одноосных кристаллов ориентации <001>.Цель работы: развитие методических основ измерения толщиныодноосных кристаллов ориентации <001> на основе преобразования пучкаБесс
dc.subjectдифракционный аксикон
dc.subjectметод измерения толщины
dc.subjectниобат лития
dc.subjectодноосные кристаллы
dc.subjectоптическая ось
dc.subjectпучок Бесселя
dc.subject.rugasnti29.31
dc.subject.udc535.42
dc.titleМетод измерения толщины одноосных кристаллов ниобата лития ориентации <001>
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерации
local.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)
local.contributor.authorИнститут информатики
local.contributor.authorматематики и электроники
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vypusknye-kvalifikacionnye-raboty/Metod-izmereniya-tolshiny-odnoosnyh-kristallov-niobata-litiya-orientacii-001-vyp-kvalifikac-rabota-po-spec-Elektronika-i-nanoelektronika-74751
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.