Статистические методы в метрологическом обеспечении производства ракетно-космической техники

Abstract

Объект исследования – измерительная система электротехнических параметров микропроцессорного контроллера температуры.Цель работы – проведение статистического анализа измерительной системы, введение корректирующих действий для обеспечения пригодности измерительной системы.В ходе работы рассмотрены два вида статистического анализа измерительной системы, как статистические методы метрологического обеспечения. Изучены цель и задачи обеспечения пригодности измерительной системы, два метода анализа, а также определены параметры характеризующие пригодность измерительной системы.Эффективность статистического анализа заключается в возможности рассмотрения и регулирования измерительной системы на основе получаемых в ходе измерительных процессов результатов.