Title: Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам
Authors: Столбинский Д. В.
Пиганов М. Н.
Полулех А. В.
Keywords: HDBK- 217F
интегральные микросхемы
математические модели
методика расчета
прогнозирование надежности
Issue Date: 2017
Citation: Столбинский, Д. В. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. В. Столбинский ; рук. работы М. Н. Пиганов; рец. А. В. Полулех ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Фак-т электроники и приборостроения, Каф. конструирования и технологии эл. - Самара, 2017. - on-line
Abstract: Рассмотрены и проанализированы существующие методы прогнозирования надежности РЭА. Выбранна методика для выпускной квалификационной работе. Произведен расчет выбраных интегральных микросхем по методике прогнозирования, которую предлагает справочник "Надежность ЭРИ", с помощью программы АСРН.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47229
Appears in Collections:Выпускные квалификационные работы



Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.