| Title: | Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам |
| Authors: | Столбинский Д. В. Пиганов М. Н. Полулех А. В. |
| Keywords: | HDBK- 217F интегральные микросхемы математические модели методика расчета прогнозирование надежности |
| Issue Date: | 2017 |
| Citation: | Столбинский, Д. В. Прогнозирование надежности интегральных микросхем по конструктивно- технологическим параметрам : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. В. Столбинский ; рук. работы М. Н. Пиганов; рец. А. В. Полулех ; Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Фак-т электроники и приборостроения, Каф. конструирования и технологии эл. - Самара, 2017. - on-line |
| Abstract: | Рассмотрены и проанализированы существующие методы прогнозирования надежности РЭА. Выбранна методика для выпускной квалификационной работе. Произведен расчет выбраных интегральных микросхем по методике прогнозирования, которую предлагает справочник "Надежность ЭРИ", с помощью программы АСРН. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/47229 |
| Appears in Collections: | Выпускные квалификационные работы |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Столбинский_Денис_Владимирович_Прогнозирование_надёжности_интегральных_микросхем.pdf | 2.7 MB | Adobe PDF | View/Open Request a copy |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.