Samara University Repository
Welcome!
| Title: | Исследование стабильности пороговых характеристик транзисторного динамического элемента памяти при низких температурах |
| Authors: | Бояринцев В. И. Дмитриев В. Д. Зеленский А. В. |
| Keywords: | радиоэлементы методические издания криогенные условия пороговые характеристики элемента |
| Issue Date: | 1989 |
| Citation: | Исследование стабильности пороговых характеристик транзисторного динамического элемента памяти при низких температурах : метод. указания к лаб. работе по курсу "Криог. электроника" / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [сост. Бояринцев В. И., Дмитриев В. Д., Зеленский А. В.]. - Куйбышев, 1989. - 1 файл (1,31 Мб). - Текст : электронный |
| Abstract: | В настоящих методических указаниях даны рекомендации по выполнению лабораторной работы. Приводятся необходимые сведения о поведении радиоэлементов в криогенных условиях. Гриф. Используемые программы: Adobe Acrobat. Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия). |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40111 |
| Appears in Collections: | Методические издания |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Бояринцев В.И. Исследование стабильности 1989.pdf | 1.34 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.