1. Репозиторий Самарского национального исследовательского университета имени академика С.П. Королёва
  2. 01. Учебные материалы
  3. Методические издания
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorВолков А. В.
dc.contributor.authorПиганов М. Н.
dc.coverage.spatialконструкции микросхем
dc.coverage.spatialуниполярные интегральные микросхемы
dc.coverage.spatialметоды изоляции
dc.coverage.spatialбиполярные микросхемы
dc.coverage.spatialструктуры микросхем
dc.coverage.spatialметодические указания
dc.coverage.spatialполупроводниковые интегральные микросхемы
dc.date1982
dc.date.accessioned2025-11-26T12:19:38Z-
dc.date.available2025-11-26T12:19:38Z-
dc.date.issued1982
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\439277
dc.identifier.citationАнализ конструкций полупроводниковых интегральных микросхем : метод. указания к лаб. работе 37 : занятия 1, 2. - Текст : электронный / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. : А. В. Волков, М. Н. Пиганов. - Куйбышев, 1982. - 1 файл (2,91 Мб)
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/40053-
dc.description.abstractИспользуемые программы: Adobe Acrobat.
dc.description.abstractТруды сотрудников Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева (электрон. версия).
dc.description.abstractДаётся анализ конструкций полупроводниковых биполярныхи униполярных микросхем, их элементов, методов изоляции, структуры. Предлагается определить метод изоляции элементов изучаемых микросхем, воспроизвести топологический чертёж общего вила, структуру кристалла, принципиальную электрическую схему, схему технологического процесса изготовления микросхем, рассчитать степень интеграции и определить плотность упаковки элементов.
dc.languagerus
dc.relation.isformatofАнализ конструкций полупроводниковых интегральных микросхем : метод. указания к лаб. работе 37 : занятия 1, 2. - Текст : непосредственный
dc.subjectструктуры микросхем
dc.subjectполупроводниковые интегральные микросхемы
dc.subjectметоды изоляции
dc.subjectметодические указания
dc.subjectконструкции микросхем
dc.subjectбиполярные микросхемы
dc.subjectуниполярные интегральные микросхемы
dc.subject.rugasnti47.33.31
dc.subject.udc621.382.049.774(075)
dc.titleАнализ конструкций полупроводниковых интегральных микросхем
dc.typeText
local.contributor.authorМинистерство высшего и среднего специального образования РСФСР
local.contributor.authorКуйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Analiz-konstrukcii-poluprovodnikovyh-integralnyh-mikroshem-metod-ukazaniya-k-lab-rabote-37-zanyatiya-1-2-Tekst-elektronnyi-84036
Appears in Collections:Методические издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
Волков А.В. Анализ конструкций полупроводниковых 1982.pdf2.98 MBAdobe PDFView/Open
Show simple item record


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.