Title: Исследование влияния поверхности полупроводника на свойства диода Шоттки
Authors: Колпаков А. И.
Keywords: полупроводниковые приборы
методические издания
диоды
полупроводники
физика полупроводников
Issue Date: 1992
Citation: Исследование влияния поверхности полупроводника на свойства диода Шоттки : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во науки, высш. образования и техн. политики РСФСР, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. А. И. Колпаков. - 1992. - 1 файл (1,13 Мб)
Abstract: Используемые программы Adobe Acrobat
Труды сотрудников САИ (электрон. версия)
Цель работы - закрепление знаний по теории физикиполупроводников и полупроводниковых приборов, читаемых в курсах "Специальная микроэлектроника" и "Специальные вопросы микроэлектроники"; овладение методиками расчета параметров полупроводниковых приборов и практическими навыками работы с приборами, обладающими структурой типа металл-полупроводник.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/39416
Appears in Collections:Методические издания

Files in This Item:
File SizeFormat 
Колпаков А.И. Исследование влияния 1992.pdf1.16 MBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.