| Title: | Исследование влияния поверхности полупроводника на свойства диода Шоттки |
| Authors: | Колпаков А. И. |
| Keywords: | полупроводниковые приборы методические издания диоды полупроводники физика полупроводников |
| Issue Date: | 1992 |
| Citation: | Исследование влияния поверхности полупроводника на свойства диода Шоттки : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / М-во науки, высш. образования и техн. политики РСФСР, Самар. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост. А. И. Колпаков. - 1992. - 1 файл (1,13 Мб) |
| Abstract: | Используемые программы Adobe Acrobat Труды сотрудников САИ (электрон. версия) Цель работы - закрепление знаний по теории физикиполупроводников и полупроводниковых приборов, читаемых в курсах "Специальная микроэлектроника" и "Специальные вопросы микроэлектроники"; овладение методиками расчета параметров полупроводниковых приборов и практическими навыками работы с приборами, обладающими структурой типа металл-полупроводник. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/39416 |
| Appears in Collections: | Методические издания |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Колпаков А.И. Исследование влияния 1992.pdf | 1.16 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.