Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Чернобровин Н. Г. | |
| dc.contributor.author | Ястребов С. Е. | |
| dc.coverage.spatial | автоматизированый контроль | |
| dc.coverage.spatial | биполярные транзисторы | |
| dc.coverage.spatial | методические издания | |
| dc.coverage.spatial | тестеры | |
| dc.date | 1991 | |
| dc.date.accessioned | 2025-11-26T12:22:13Z | - |
| dc.date.available | 2025-11-26T12:22:13Z | - |
| dc.date.issued | 1991 | |
| dc.identifier.identifier | RU\НТБ СГАУ\470524 | |
| dc.identifier.citation | Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : электронный / Гос. ком. РСФСР по делам науки и высш. шк., Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; сост.: Н. Г. Чернобровин, С. Е. Ястребов. - Самара, 1991. - 1 файл (406,14 Кб) | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/39198 | - |
| dc.description.abstract | Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов . Рассмотрены технические характеристики и структура тестера 14TKC-I00-001, принципы и схемы измерения статических параметров биполярных транзисторов. Описана технология автоматизированной проверки транзисторов на тестере. Предназначены для студентов специальности 23.03. Составлены на кафедре 'Микроэлектроника и технология радиоэлектронное аппаратуры". | |
| dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat. | |
| dc.description.abstract | Труды сотрудников КуАИ (электрон. версия). | |
| dc.language | rus | |
| dc.relation.isformatof | Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов : метод. указания к лаб. работе. - Текст : непосредс | |
| dc.subject | автоматизированый контроль | |
| dc.subject | биполярные транзисторы | |
| dc.subject | методические издания | |
| dc.subject | тестеры | |
| dc.subject.rugasnti | 47.03 | |
| dc.subject.udc | 621.382.31(075) | |
| dc.title | Изучение тестера 14ТКС-100-001 и технологии автоматизированного контроля биполярных транзисторов | |
| dc.type | Text | |
| local.contributor.author | Государственный комитет РСФСР по делам науки и высшей школы | |
| local.contributor.author | Куйбышевский авиационный институт им. С. П. Королева | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Izuchenie-testera-14TKS100001-i-tehnologii-avtomatizirovannogo-kontrolya-bipolyarnyh-tranzistorov-93282 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Metodicheskie-izdaniya/Izuchenie-testera-14TKS100001-i-tehnologii-avtomatizirovannogo-kontrolya-bipolyarnyh-tranzistorov-93282 | |
| Appears in Collections: | Методические издания | |
Files in This Item:
| File | Size | Format | |
|---|---|---|---|
| Чернобровин Н.Г. Изучение тестера 1991.pdf | 406.14 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.