Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАбульханов С. Р.
dc.contributor.authorСмолин В. Д.
dc.coverage.spatialалгоритм решения
dc.coverage.spatialоптимальные режимы резания
dc.coverage.spatialпогрешность обработки
dc.coverage.spatialметод линейного программирования
dc.creatorАбульханов С. Р., Смолин В. Д.
dc.date1981
dc.date.accessioned2025-08-27T15:42:00Z-
dc.date.available2025-08-27T15:42:00Z-
dc.date.issued1981
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\489976
dc.identifier.citationАбульханов, С. Р. Расчет точностных режимов резания на ЭВМ М4030 / С. Р. Абульханов, В. Д. Смолин // Высокоэффективные методы механической обработки жаропрочных и титановых сплавов : межвуз. сб. / М-во высш. и сред. спец. образования РСФСР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; [редкол.: Ф. П. Урывский (отв. ред.) и др.]. - Куйбышев, 1981. - С. 37-42.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/33461-
dc.description.abstractПредлагается один из возможных путей создания алгоритма и программы для определения оптимальных режимов резания, обеспечивающих заданную погрешность обработки.
dc.sourceВысокоэффективные методы механической обработки жаропрочных и титановых сплавов : межвуз. сб. - Текст : электронный
dc.subjectалгоритм решения
dc.subjectоптимальные режимы резания
dc.subjectпогрешность обработки
dc.subjectметод линейного программирования
dc.titleРасчет точностных режимов резания на ЭВМ М4030
dc.typeText
dc.citation.epage42
dc.citation.spage37
local.contributor.authorАбульханов С. Р.
local.contributor.authorСмолин В. Д.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vysokoeffektivnye-metody/Raschet-tochnostnyh-rezhimov-rezaniya-na-EVM-M4030-99346
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Vysokoeffektivnye-metody/Raschet-tochnostnyh-rezhimov-rezaniya-na-EVM-M4030-99346
Appears in Collections:Высокоэффективные методы

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр.-37-42.pdf151.84 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.