Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorАрефьев Е. Ю.
dc.contributor.authorЖивописцев Е. С.
dc.contributor.authorПопов С. Б.
dc.contributor.authorСисакян И. Н.
dc.contributor.authorСойфер В. А.
dc.coverage.spatialтеневой метод
dc.coverage.spatialконтроль оптических поверхностей
dc.coverage.spatialмикро-ЭВМ
dc.coverage.spatialкарта ошибок
dc.coverage.spatialавтоматизированные системы
dc.creatorАрефьев Е. Ю., Живописцев Е. С., Попов С. Б., Сисакян И. Н., Сойфер В. А.
dc.date1983
dc.date.accessioned2025-08-27T14:14:55Z-
dc.date.available2025-08-27T14:14:55Z-
dc.date.issued1983
dc.identifier.identifierRU\НТБ СГАУ\439005
dc.identifier.citationАвтоматизированная система технологического контроля оптических поверхностей на базе микро-ЭВМ "Электроника-60" / Е. Ю. Арефьев, Е. С. Живописцев, С. Б. Попов, И. Н. Сисакян, В. А. Сойфер // Автоматизация экспериментальных исследований : межвуз. сб. науч. тр. - Текст : электронный / Акад. наук СССР, М-во высш. и сред. спец. образования СССР, Куйбышев. авиац. ин-т им. С. П. Королева ; редкол.: В. А. Виттих [и др.]. - 1983. - С. 116-121
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/24116-
dc.sourceАвтоматизация экспериментальных исследований : межвуз. сб. науч. тр. - Текст : электронный
dc.subjectтеневой метод
dc.subjectконтроль оптических поверхностей
dc.subjectмикро-ЭВМ
dc.subjectкарта ошибок
dc.subjectавтоматизированные системы
dc.titleАвтоматизированная система технологического контроля оптических поверхностей на базе микро-ЭВМ "Электроника-60"
dc.typeText
dc.citation.epage121
dc.citation.spage116
local.contributor.authorАрефьев Е. Ю.
local.contributor.authorЖивописцев Е. С.
local.contributor.authorПопов С. Б.
local.contributor.authorСисакян И. Н.
local.contributor.authorСойфер В. А.
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Avtomatizaciya-eksperimentalnyh-issledovanii/Avtomatizirovannaya-sistema-tehnologicheskogo-kontrolya-opticheskih-poverhnostei-na-baze-mikroEVM-Elektronika60-84232
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Avtomatizaciya-eksperimentalnyh-issledovanii/Avtomatizirovannaya-sistema-tehnologicheskogo-kontrolya-opticheskih-poverhnostei-na-baze-mikroEVM-Elektronika60-84232
Appears in Collections:Автоматизация экспериментальных исследований

Files in This Item:
File SizeFormat 
Стр. 116-121.pdf614.88 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.