Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorХаритонов, С.И.
dc.contributor.authorПавельев, В.С.
dc.contributor.authorКазанский, Н.Л.
dc.contributor.authorСтрелков, Ю.С.
dc.contributor.authorТукмаков, К.Н.
dc.contributor.authorРешетников, А.С.
dc.contributor.authorГанчевская, С.В.
dc.contributor.authorГерасимов, В.В.
dc.contributor.authorКнязев, Б.А.
dc.date2023-02
dc.date.accessioned2025-08-27T05:20:58Z-
dc.date.available2025-08-27T05:20:58Z-
dc.date.issued2023-02
dc.identifier.identifierDspace\SGAU\20230216\102026
dc.identifier.citationХаритонов, С.И. Оптимизация, изготовление и исследование кремниевой бинарной субволновой цилиндрической линзы терагерцового диапазона / С.И. Харитонов, В.С. Павельев, Н.Л. Казанский, Ю.С. Стрелков, К.Н. Тукмаков, А.С. Решетников, С.В. Ганчевская, В.В. Герасимов, Б.А. Князев // Компьютерная оптика. – 2023. – Т. 47, № 1. – С. 62-67. – DOI: 10.18287/2412-6179-CO-1194.
dc.identifier.uri10.18287/2412-6179-CO-1194
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/22861-
dc.description.abstractРассмотрена задача оптимизации и изготовления субволновой бинарной цилиндрической пропускающей дифракционной линзы с фокусным расстоянием f=300 мм для длины волны λ=141 мкм. В качестве материала подложки дифракционной линзы использовался высокоомный кремний. Расчётное значение угла падения освещающего пучка составляло π/6. Параметрами оптимизации были выбраны высота профиля дифракционной линзы и коэффициент заполнения штриха. Главной целью оптимизации конструкции было увеличение дифракционной эффективности линзы. Расчёт дифракционной эффективности дифракционной линзы осуществлялся методом Фурье-мод. Дифракционная линза изготовлена методом плазмохимического травления (Бош-процесс) поверхности кремниевой подложки. Оценка дифракционной эффективности рассчитанной линзы составила e=70%. Однако экспериментально измеренная дифракционная эффективность была значительно меньше расчётной. В статье приведён анализ снижения дифракционной эффективности, связанного с 1) технологическими погрешностями формирования дифракционного микрорельефа; 2) деструктивной интерференцией излучения в случае отсутствия учёта толщины кремниевой подложки при расчёте микрорельефа. Приведены рекомендации по расчёту микрорельефа с учётом толщины подложки.
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при поддержке Российского научного фонда (проект № 19-72-20202) на уникальной установке «Новосибирский лазер на свободных электронах» с использованием оборудования «Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения».
dc.languagerus
dc.publisherСамарский национальный исследовательский университет
dc.relation.ispartofseries47;1
dc.titleОптимизация, изготовление и исследование кремниевой бинарной субволновой цилиндрической линзы терагерцового диапазона
dc.typeArticle
dc.identifier.scsti29.35.33
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Optimizaciya-izgotovlenie-i-issledovanie-kremnievoi-binarnoi-subvolnovoi-cilindricheskoi-linzy-teragercovogo-diapazona-102026
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Optimizaciya-izgotovlenie-i-issledovanie-kremnievoi-binarnoi-subvolnovoi-cilindricheskoi-linzy-teragercovogo-diapazona-102026
Appears in Collections:Журнал "Компьютерная оптика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
08-1194-Харитонов_и_др-KI-Lit-MI-MA-NL-JuN2.pdfОсновная статья980.54 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.