Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorМихеев, И.Д.
dc.contributor.authorВахитов, Ф.Х.
dc.date2019-06
dc.date.accessioned2025-08-27T05:20:23Z-
dc.date.available2025-08-27T05:20:23Z-
dc.date.issued2019-06
dc.identifier.identifierDspace\SGAU\20190718\78042
dc.identifier.citationМихеев, И.Д. Использование атомно-силовой микроскопии для оценки качества очистки и трибометрических свойств поверхности кремниевых пластин / И.Д. Михеев, Ф.Х. Вахитов // Компьютерная оптика. – 2019. – Т. 43, № 3. – С. 507-511. – DOI: 10.18287/2412-6179-2019-43-3-507-517.
dc.identifier.urihttps://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-3-507-517.
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/22412-
dc.description.abstractЭкспериментально исследованы различия в величинах адгезионных сил взаимодействия острия зонда атомно-силового микроскопа и очищенных поверхностей кремниевых пластин при их обработке изопропиловым спиртом и дистиллированной водой. Показано, что наличие на поверхности подложек молекул воды приводит к значительному (приблизительно в 5 раз) изменению этих сил. Установлено, что использование атомно-силового микроскопа позволяет оценивать относительную величину сил трения на малых участках поверхностей кремниевых пластин.
dc.languagerus
dc.publisherСамарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева, Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
dc.relation.ispartofseries43;3
dc.titleИспользование атомно-силовой микроскопии для оценки качества очистки и трибометрических свойств поверхности кремниевых пластин
dc.title.alternativeThe use of atomic force microscopy to assess the quality of cleaning and tribometric properties of a silicon wafer surface
dc.typeArticle
dc.identifier.scsti29.19.16
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Ispolzovanie-atomnosilovoi-mikroskopii-dlya-ocenki-kachestva-ochistki-i-tribometricheskih-svoistv-poverhnosti-kremnievyh-plastin-78042
local.identifier.oldurihttp://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Ispolzovanie-atomnosilovoi-mikroskopii-dlya-ocenki-kachestva-ochistki-i-tribometricheskih-svoistv-poverhnosti-kremnievyh-plastin-78042
Appears in Collections:Журнал "Компьютерная оптика"

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
20_Miheev-Vahitov_AA-L-MI-Pages-SV-VVK-JuN2-NL-Gr-!-Fin.pdfОсновная статья692.88 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.