Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Михеев, И.Д. | |
| dc.contributor.author | Вахитов, Ф.Х. | |
| dc.date | 2019-06 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-27T05:20:23Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-27T05:20:23Z | - |
| dc.date.issued | 2019-06 | |
| dc.identifier.identifier | Dspace\SGAU\20190718\78042 | |
| dc.identifier.citation | Михеев, И.Д. Использование атомно-силовой микроскопии для оценки качества очистки и трибометрических свойств поверхности кремниевых пластин / И.Д. Михеев, Ф.Х. Вахитов // Компьютерная оптика. – 2019. – Т. 43, № 3. – С. 507-511. – DOI: 10.18287/2412-6179-2019-43-3-507-517. | |
| dc.identifier.uri | https://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2019-43-3-507-517. | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/22412 | - |
| dc.description.abstract | Экспериментально исследованы различия в величинах адгезионных сил взаимодействия острия зонда атомно-силового микроскопа и очищенных поверхностей кремниевых пластин при их обработке изопропиловым спиртом и дистиллированной водой. Показано, что наличие на поверхности подложек молекул воды приводит к значительному (приблизительно в 5 раз) изменению этих сил. Установлено, что использование атомно-силового микроскопа позволяет оценивать относительную величину сил трения на малых участках поверхностей кремниевых пластин. | |
| dc.language | rus | |
| dc.publisher | Самарский национальный исследовательский университет им. академика С.П. Королева, Институт систем обработки изображений РАН - филиал ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН | |
| dc.relation.ispartofseries | 43;3 | |
| dc.title | Использование атомно-силовой микроскопии для оценки качества очистки и трибометрических свойств поверхности кремниевых пластин | |
| dc.title.alternative | The use of atomic force microscopy to assess the quality of cleaning and tribometric properties of a silicon wafer surface | |
| dc.type | Article | |
| dc.identifier.scsti | 29.19.16 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Ispolzovanie-atomnosilovoi-mikroskopii-dlya-ocenki-kachestva-ochistki-i-tribometricheskih-svoistv-poverhnosti-kremnievyh-plastin-78042 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Ispolzovanie-atomnosilovoi-mikroskopii-dlya-ocenki-kachestva-ochistki-i-tribometricheskih-svoistv-poverhnosti-kremnievyh-plastin-78042 | |
| Appears in Collections: | Журнал "Компьютерная оптика" | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 20_Miheev-Vahitov_AA-L-MI-Pages-SV-VVK-JuN2-NL-Gr-!-Fin.pdf | Основная статья | 692.88 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.