Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Сай, С.В. | |
| dc.date | 2018 | |
| dc.date.accessioned | 2025-08-27T05:20:21Z | - |
| dc.date.available | 2025-08-27T05:20:21Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | |
| dc.identifier.identifier | Dspace\SGAU\20181111\72374 | |
| dc.identifier.citation | Сай, С.В. Метрика искажений мелких структур компрессированных изображений / С.В. Сай // Компьютерная оптика. – 2018. – Т. 42, № 5. – С. 829-837. – DOI: 10.18287/2412-6179-2018-42-5-829-837. | |
| dc.identifier.uri | https://dx.doi.org/10.18287/2412-6179-2018-42-5-829-837 | |
| dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/22384 | - |
| dc.description.abstract | В статье предлагается новая метрика искажений мелких структур компрессированных изображений – MFSD (Metric of Fine Structures Distortion). К особенностям метрики относится то, что она основана на алгоритме идентификации мелких структур изображения с использованием нормированной системы N-CIELAB, что позволяет оценивать искажения с учетом свойств контрастной чувствительности зрения. Приводятся экспериментальные результаты оценки искажений тестовых изображений в зависимости от степени компрессии и параметра качества в кодеках JPEG и JPEG2000 по метрике MFSD и по традиционным метрикам PSNR и SSIM. На основе результатов сравнительного анализа MFSD с субъективными оценками качества компрессированных изображений JPEG и JPEG2000 получен новый объективный критерий высокого качества воспроизведения мелких структур компрессированных изображений. Приводится теоретическое и экспериментальное обоснование объективности нового критерия по результатам обработки и анализа искажений компрессированных тестовых фотореалистичных изображений. | |
| dc.language | rus | |
| dc.publisher | Новая техника | |
| dc.relation.ispartofseries | 42;5 | |
| dc.title | Метрика искажений мелких структур компрессированных изображений | |
| dc.title.alternative | Metric of fine structures distortions of compressed images | |
| dc.type | Article | |
| dc.identifier.scsti | 28.23.15 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Metrika-iskazhenii-melkih-struktur-kompressirovannyh-izobrazhenii-72374 | |
| local.identifier.olduri | http://repo.ssau.ru/handle/Zhurnal-Komputernaya-optika/Metrika-iskazhenii-melkih-struktur-kompressirovannyh-izobrazhenii-72374 | |
| Appears in Collections: | Журнал "Компьютерная оптика" | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 420514.pdf | 495.37 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.