Определение температурного коэффициента линейного расширения по интерферограмме

Abstract

В данной работе предлагается теоретическое обоснование простого высокоточного метода определения температурного коэффициента линейного расширения материалов как изотропных, так и анизотропных при обработке интерферограмм, получаемых с помощью голографической или цифровой спекл-интерферометрии. Интерферограммы предлагается регистрировать при термоупругих изгибных деформациях образца, вызванных перепадом температур по его толщине. Предлагаемый метод является бесконтактным и не предъявляет особых требований к поверхности исследуемого материала как в случае классической интерферометрии. Приводится численное моделирование процесса термоупругих деформаций образца, подтверждающее правильность предлагаемого метода.