Title: Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем
Authors: Тюлевин, С.В.
Пиганов, М.Н.
Еранцева, Е.С.
Issue Date: 2017
Publisher: Новая техника
Citation: Тюлевин С.В. Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем / С.В. Тюлевин, М.Н. Пиганов, Е.С. Еранцева // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 1201-1205.
Abstract: Проведен анализ методик обучающего эксперимента полупроводниковых микросхем для индивидуального прогнозирования показателей их качества. Сделан выбор информативных параметров и средств их контроля. Обоснованы схемы включения микросхем в процессе исследовательских испытаний и режимы их контроля. Выполнен анализ конструктивно-технологических вариантов микросхем. Разработана программа исследовательских испытаний. Приведены результаты обучающего эксперимента для микросхем серии 522. Проведен анализ экспериментальных данных. Рекомендовано использовать результаты обучающего эксперимента для построения математических прогнозных моделей качества микросхем.
URI: http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13473
Appears in Collections:Информационные технологии и нанотехнологии

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
paper 212_1201-1205.pdfОсновная статья. Раздел: Математическое моделирование478.48 kBAdobe PDFView/Open


Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.