| Title: | Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем |
| Authors: | Тюлевин, С.В. Пиганов, М.Н. Еранцева, Е.С. |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | Новая техника |
| Citation: | Тюлевин С.В. Методика обучающего эксперимента биполярных микросхем / С.В. Тюлевин, М.Н. Пиганов, Е.С. Еранцева // Сборник трудов III международной конференции и молодежной школы «Информационные технологии и нанотехнологии» (ИТНТ-2017) - Самара: Новая техника, 2017. - С. 1201-1205. |
| Abstract: | Проведен анализ методик обучающего эксперимента полупроводниковых микросхем для индивидуального прогнозирования показателей их качества. Сделан выбор информативных параметров и средств их контроля. Обоснованы схемы включения микросхем в процессе исследовательских испытаний и режимы их контроля. Выполнен анализ конструктивно-технологических вариантов микросхем. Разработана программа исследовательских испытаний. Приведены результаты обучающего эксперимента для микросхем серии 522. Проведен анализ экспериментальных данных. Рекомендовано использовать результаты обучающего эксперимента для построения математических прогнозных моделей качества микросхем. |
| URI: | http://repo.ssau.ru/jspui/handle/123456789/13473 |
| Appears in Collections: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| paper 212_1201-1205.pdf | Основная статья. Раздел: Математическое моделирование | 478.48 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in Repository are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.